Une sélection de nos clients :

Clients d'ASTER statisfaits


Actualité :

du 14-SEP-2010 au 16-SEP-2010 :
BTW2010 - IEEE 9th Board Test Workshop - Agilent Technologies and ASTER are presenting a paper. Test Coverage Consultant - A coverage tool to explore the question:"What does it mean when the board test passes?" (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
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05-OCT-2010 :
GOEPEL Technology Day - Learn about the new "TestWay Express" test coverage analysis tool from ASTER. You can still register online before or during the workshop. (Uttoxeter Racecourse, Royaume Uni)
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10-AUG-2010 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
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du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 :
Salon CiEN - stand H31 (Paris, France)
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19-OCT-2009 :
Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test.
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29-OCT-2009 :
Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique  - Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite (Morlaix, France)
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du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 :
Productronica - Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)
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13-OCT-2009 :
GOEPEL Technology Day - Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)
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du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 :
Forum de l'Electronique - Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
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23-JUN-2009 :
Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
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du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 :
Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Californie, Etats-Unis)
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03 & 05-MAR-2009 :
Goepel Technology Days - Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
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05-DEC-2008 :
Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
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20-NOV-2008 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
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du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 :
Electronica - Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)
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24-OCT-2008 :
ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse
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du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 :
Forum de l'Electronique - Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)
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du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 :
Autotestcon - Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)
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10-JUL-2008 :
Success Stories : Témoignage de KONTRON. (Boisbriand, Canada)
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du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 :
National Electronics Week - Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
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10-JUN-2008 :
First ASTER Chinese Users' Group - Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
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26-MAY-2008 :
Edition de mai de la Newsletter ASTER.
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19-MAY-2008 :
Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale.
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du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 :
"Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Californie, Etats-Unis)
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28-FEB-2008 :
Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. (France)
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19-FEB-2008 :
ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Toronto, Canada)
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du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 :
Productronica - Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
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04-OCT-2007 :
ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. (Paris, France)
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du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 :
Forum de l'Electronique - Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
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22-JUN-2007 :
ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView.
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du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 :
Nepcon UK - Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
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15-MAY-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
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02-MAY-2007 :
Edition de Mai de la Newsletter ASTER.
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28-FEB-2007 :
Boundary Scan Day - organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
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28-FEB-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT
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08-FEB-2007 :
Test In Production Event - organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)
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23-JAN-2007 :
Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
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16-OCT-2006 :
ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique
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14-SEP-2006 :
test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
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19-JUN-2006 :
ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. (Tel Aviv, Israel)
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03-APR-2006 :
ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing.
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Profil de la société

ASTER Headquarters ASTER Ingénierie propose un ensemble cohérent de produits professionnels à déployer de la conception à la production de cartes électroniques.
Une longue expérience de ces domaines d'activité nous a permis d'acquérir une très grande compétence en matière de test et de fabrication de cartes électroniques. Nous sommes donc à même de répondre positivement à la grande majorité des besoins de nos clients tant en matière de développement logiciel que de services où nous apportons souvent des solutions innovantes aux problèmes rencontrés.

  • Recherche et développement de nouveaux concepts pour les produits liés à la conception, au test, à l'aide au diagnostique de fautes, à la traçabilité et au suivi de la qualité. Une équipe de spécialistes développe de nouveaux produits et améliore les produits existants. Un réseau de support et de commercialisation mondial (distributeurs, VAR, centres de support) est en place afin de promouvoir nos produits et assurer le suivi de la base installée dans le monde entier.
  • Distribution et personnalisation de produits complémentaires conçus par les sociétés ACUGEN et GOEPEL electronic.
  • Prestation de services. L'équipe assurant le support technique des produits commercialisés en FRANCE assure également la réalisation de prestations pour l'analyse de testabilité TestWay et le développement de programmes de test boundary scan GOEPEL.
Notre philosophie peut se résumer en une phrase: "S'il n'y a pas de solution, c'est qu'il n'y a pas de problème!"

Produits ASTER

ASTER est le premier fournisseur en matière d'outil d'analyse de testabilité. La résolution des problèmes de nos clients majeurs nous a permis de tisser des relations de confiance avec eux tout en capitalisant une expérience unique.
TestWay TestWay, La réference en matière d'analyse de Testabilité.
TPQR TPQR [Test Program Quality Report] est un produit d’entrée de gamme pour l’analyse des cartes électroniques. Basé sur le cœur de l’outil leader TestWay, il permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d'inspection.
QuadView QuadView est un module de visualisation de cartes électroniques utilisé seul ou entièrement intégré dans une application client.
Quad QUAD est un outil de gestion Qualité flexible articulé autour d'une base d'information centralisée.
WildScan WildScan, Le convertisseur de tests Boundary-Scan.

Autres produits

ACUGEN Software Inc.
  • ATGEN - Génération de vecteurs de test pour les circuits programmables.
  • Sharpeye - Analyse de testabilité des CPLD et des FPGA.
Göpel electronic GmbH Jena JTAG BSCAN AOI ATS

Activité récente

Publications
Evénements
  • BTW2010 - IEEE 9th Board Test Workshop, du 14-SEP-2010 au 16-SEP-2010, Agilent Technologies and ASTER are presenting a paper. Test Coverage Consultant - A coverage tool to explore the question:"What does it mean when the board test passes?" (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
  • GOEPEL Technology Day, 05-OCT-2010, Learn about the new "TestWay Express" test coverage analysis tool from ASTER. You can still register online before or during the workshop. (Uttoxeter Racecourse, Royaume Uni)
  • Productronica, du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009, Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)
  • GOEPEL Technology Day, 13-OCT-2009, Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)
  • Forum de l'Electronique, du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009, Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
  • Goepel Technology Days, 03 & 05-MAR-2009, Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
  • Electronica, du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008, Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)
  • Forum de l'Electronique, du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008, Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)
  • Autotestcon, du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008, Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)
  • National Electronics Week, du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008, Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
  • First ASTER Chinese Users' Group, 10-JUN-2008, Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
  • Productronica, du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007, Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
  • Forum de l'Electronique, du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007, Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
  • Nepcon UK, du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007, Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
  • Boundary Scan Day, 28-FEB-2007, organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
  • Test In Production Event, 08-FEB-2007, organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)


 
     
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